文章标题：我国桑树五种常见粉虱的超微结构
文章作者：宋早芹1 季小雨1 杜予州1** 任顺祥2**
关 键 词： 粉虱，桑树，超微结构，ESEM，中国
文章摘要： 应用环境扫描电镜（ESEM）对我国桑树5种主要粉虱害虫桑粉虱Pealius mori (Takahashi)、杨梅粉虱Parabemisia myricae Kuwana、珊瑚瘤粉虱Aleuroclava aucubae Kuwana、马氏粉虱Aleurdolobus marlatti（Quaintance）和非洲伯粉虱Bemisia afer (Priesner & Hosny)伪蛹的超微形态结构特征进行了系统观察和描述；并对这5种粉虱的主要形态特征进行了比较研究。